X射線熒光光譜XRF
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內(nèi)容概述
隨著微電子學(xué)、核科學(xué)以及先進(jìn)算法技術(shù)的迅猛發(fā)展，X射線熒光技術(shù)已經(jīng)成為工業(yè)現(xiàn)場、金屬、礦物、土壤、考古、RoHS、消費(fèi)品等領(lǐng)域的材料分析標(biāo)準(zhǔn)。譜育科技自2016年推出手持式XRF產(chǎn)品MIX5以來，一直致力于產(chǎn)品的改進(jìn)升級。新一代X射線熒光產(chǎn)品采用以自主開發(fā)的高階基本參數(shù)法為代表的無標(biāo)樣方法，能夠?qū)崿F(xiàn)40多種元素以上的快速精確分析，可廣泛應(yīng)用于合金判別、礦業(yè)勘察、環(huán)境、陶瓷和青銅器判別等領(lǐng)域，可以實(shí)現(xiàn)多層薄膜的厚度和元素含量的快速測量，甚至還可獲得材料結(jié)構(gòu)如配位、價態(tài)等的方面信息。
